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能量色散型X熒光光譜儀

品 牌:新典儀器

產 地:杭州

型 號:Ux-550

關鍵詞標簽:X熒光光譜儀
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● 滿足RoHS/ELV/WEEE、無鹵、EN71等環(huán)保指令管控

●  采用全原裝美國進口Si-PIN電制冷探測器,無需液氮

●  一機多能,同一軟件界面還可實現金屬鍍層厚度以及合金成分分析

● 業(yè)內唯一提供開放式工作區(qū),用戶根據需求可自行增加測試元素、測試工作區(qū),無需廠家授權

產品概述

Ux-550 能量色散X熒光光譜儀是一款既可應對RoHS/ELV/WEEE、無鹵、EN71等環(huán)保指令管控又可檢測金屬鍍層厚度以及合金成分的多功能機型,軟件精心設計的開放式工作曲線功能,無需廠家授權,用戶可根據測試需求自行增加測試元素、新建測試工作區(qū),特別適用于多材料的工廠制程控制。

應用領域

用于RoHS/WEEE/ELV指令管控的產品:電子電器、汽車行業(yè)、信息技術及通訊設備、電動工具、玩具等設備

用于無鹵指令管控的產品:含有Cl、Br等元素作阻燃劑的產品

用于銅合金、鐵合金、鋁合金、鈦合金、高溫合金及各種混雜合金等合金材料內元素成分分析和含量測試

用于單、雙層金屬電鍍層厚度檢測

性能優(yōu)勢

快速、無損分析

通過X射線無損激發(fā)被測物元素,經探測器(Si-PIN)采集其熒光強度,軟件只需數秒即可得到精準的元素含量、鍍層厚度和基材成分

開放式工作曲線,一機多能

業(yè)內唯一提供開放式工作區(qū),無需廠家授權,用戶可根據測試需求增加測試元素和新建測試工作區(qū),軟件除檢測RoHS有害元素外,還可對合金成分、金屬鍍層厚度檢測。

全譜圖對比,實時監(jiān)測物料變化

通過全譜圖對比功能,用戶很快就能識別同種物料是否發(fā)生材質(成分、鍍層)變化,防止材料改變給產品質量造成影響。

技術規(guī)格:

序號

項目

參數

1

元素范圍

S-U元素

2

分析軟件

Ux-550 RoHS專用版8.0

3

檢出下限

Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm, Cl≤50 ppm

4

工作環(huán)境

溫度 15~30℃ 濕度 ≤85% (不結露)

5

外形尺寸

680(W)x400(D)x390(H)mm

6

樣品腔尺寸

小樣品腔300*350*75mm,大樣品腔:無限制,小于30公斤

7

重    量

約45Kg

8

電    源

AC220V~240V、50Hz

9

額定功率

350W

10

測量時間

120-400S(系統(tǒng)自動調整)



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